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* 低温実験関係（温度計etc.） [#efe40532]

** 接合試料の管理 [#o68837da]

Googleドキュメント [[View:https://docs.google.com/spreadsheet/ccc?key=0AoTIak85Eu9ydERoNTAxUE5MNHZHekZqQnlUSFJUZlE&hl=en_US]]

誰でも編集可能。
もう少し見やすい形にするかは追々考えます。

** 温度計の管理 [#d24c4a8f]
|serial num.|種類|型番|calib. curve|所有|納入日|使用履歴|備考|
|D48910|Si Diode|DT-670-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D48910.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D48910.zip]]|KEK||[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D48910_log.txt]]|KEKにて使用中。ch. D|
|X17351|Cernox||[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X17351.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X17351.zip]]|KEK|||都丸さんが校正。我々は未使用|
|X49553|Cernox|CX-1050-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X49553.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X48553.zip]]|KEK||[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X49553_log.txt]]|破損|
|X49618|Cernox|CX-1050-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X49618.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X49618.zip]]|KEK||[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X49618_log.txt]]|破損|
|X50665|Cernox|CX-1050-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X50665.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X50665.zip]]|KEK||[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X50665_log.txt]]|破損|
|X50666|Cernox|CX-1050-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X50666.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X50666.zip]]|KEK||[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X50666_log.txt]]|生存|
|X70200|Cernox|CX-1050-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X70200.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X70200.zip]]|坪野研|2011/03/20|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X70200_log.txt]]|修復|
|X70252|Cernox|CX-1050-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X70252.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X70252.zip]]|坪野研|2011/03/20|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X70252_log.txt]]|修復|
|X71676|Cernox|CX-1050-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X71676.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X71676.zip]]|坪野研|2011/03/20|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X71676_log.txt]]|修復|
|X72725|Cernox|CX-1050-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X72725.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X72725.zip]]|坪野研|2011/07/11|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X72725_log.txt]]|生存|
|X73593|Cernox|CX-1050-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X73593.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X73593.zip]]|坪野研|2011/07/11|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X73593_log.txt]]|生存|
|X73612|Cernox|CX-1050-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X73612.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X73612.zip]]|坪野研|2011/07/11|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/X73612_log.txt]]|KEKにて使用中。ch. A|
|D6026639|Si Diode|DT-670-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026639.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026639.zip]]|坪野研|2011/09/06|[[View:KEKcryoLog#g51cc005]]|KEKにて使用中。ch. B|
|D6027365|Si Diode|DT-670-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6027365.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6027365.zip]]|坪野研|2011/09/06|[[View:KEKcryoLog#g447f729]]|KEKにて使用中。ch. C|
|D6026339|Si Diode|DT-670-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/CalibData/D6026339.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/CalibData/D6026339.zip]]|坪野研|2012/02/29|[[View:KEKcryoLog#oea71823]]|未使用。低温キャビティ用|
|D6026345|Si Diode|DT-670-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026345.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026345.zip]]|坪野研|2012/02/29|[[View:KEKcryoLog#i4ce19f3]]|未使用。低温キャビティ用|
|D6026747|Si Diode|DT-670-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026747.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026747.zip]]|坪野研|2012/02/29|[[View:KEKcryoLog#ceb2bed0]]|未使用。低温キャビティ用|
|D6026760|Si Diode|DT-670-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026760.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026760.zip]]|坪野研|2012/02/29|[[View:KEKcryoLog#eaa35a36]]|未使用。低温キャビティ用|
|D6026761|Si Diode|DT-670-SD-4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026761.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026761.zip]]|坪野研|2012/02/29|[[View:KEKcryoLog#oa4c717b]]|未使用。低温キャビティ用|
|D6026620|Si Diode|DT-670-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026620.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026620.zip]]|坪野研|2012/05/11|[[View:KEKcryoLog#x352ec3e]]|未使用。低温キャビティ用|
|D6026628|Si Diode|DT-670-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026628.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6026628.zip]]|坪野研|2012/05/11|[[View:KEKcryoLog#k14ab3b5]]|未使用。低温キャビティ用|
|D6028158|Si Diode|DT-670-SD-1.4L|[[View:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6028158.pdf]]/[[DL:http://granite.phys.s.u-tokyo.ac.jp/shibata/CalibData/D6028158.zip]]|坪野研|2012/05/11|[[View:KEKcryoLog#y045597d]]|未使用。低温キャビティ用|