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低温実験関係(温度計etc.)

接合試料の管理

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誰でも編集可能。 もう少し見やすい形にするかは追々考えます。

温度計の管理

serial num.種類型番calib. curve所有納入日使用履歴備考
D48910Si DiodeDT-670-SD-4LView/DLKEKViewKEKにて使用中。ch. D
X17351CernoxView/DLKEK都丸さんが校正。我々は未使用
X49553CernoxCX-1050-SD-4LView/DLKEKView破損
X49618CernoxCX-1050-SD-4LView/DLKEKView破損
X50665CernoxCX-1050-SD-4LView/DLKEKView破損
X50666CernoxCX-1050-SD-4LView/DLKEKView生存
X70200CernoxCX-1050-SD-1.4LView/DL坪野研2011/03/20View修復
X70252CernoxCX-1050-SD-1.4LView/DL坪野研2011/03/20View修復
X71676CernoxCX-1050-SD-1.4LView/DL坪野研2011/03/20View修復
X72725CernoxCX-1050-SD-1.4LView/DL坪野研2011/07/11View生存
X73593CernoxCX-1050-SD-1.4LView/DL坪野研2011/07/11View生存
X73612CernoxCX-1050-SD-1.4LView/DL坪野研2011/07/11ViewKEKにて使用中。ch. A
D6026639Si DiodeDT-670-SD-4LView/DL坪野研2011/09/06View:KEKcryoLogKEKにて使用中。ch. B
D6027365Si DiodeDT-670-SD-4LView/DL坪野研2011/09/06View:KEKcryoLogKEKにて使用中。ch. C
D6026339Si DiodeDT-670-SD-4LView/DL坪野研2012/02/29View:KEKcryoLog未使用。低温キャビティ用
D6026345Si DiodeDT-670-SD-4LView/DL坪野研2012/02/29View:KEKcryoLog未使用。低温キャビティ用
D6026747Si DiodeDT-670-SD-4LView/DL坪野研2012/02/29View:KEKcryoLog未使用。低温キャビティ用
D6026760Si DiodeDT-670-SD-4LView/DL坪野研2012/02/29View:KEKcryoLog未使用。低温キャビティ用
D6026761Si DiodeDT-670-SD-4LView/DL坪野研2012/02/29View:KEKcryoLog未使用。低温キャビティ用
D6026620Si DiodeDT-670-SD-1.4LView/DL坪野研2012/05/11View:KEKcryoLog未使用。低温キャビティ用
D6026628Si DiodeDT-670-SD-1.4LView/DL坪野研2012/05/11View:KEKcryoLog未使用。低温キャビティ用
D6028158Si DiodeDT-670-SD-1.4LView/DL坪野研2012/05/11View:KEKcryoLog未使用。低温キャビティ用

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Last-modified: 2013-07-09 (火) 14:50:24